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苏子鹏, 屠康, 邹秀容, 静玮, 潘磊庆. 基于敲击振动检测苹果内部缺陷的研究[J]. 食品工业科技, 2008, (07): 235-238.
DOI:
10.13386/j.issn1002-0306.2008.07.062
引用本文:
苏子鹏, 屠康, 邹秀容, 静玮, 潘磊庆. 基于敲击振动检测苹果内部缺陷的研究[J]. 食品工业科技, 2008, (07): 235-238.
DOI:
10.13386/j.issn1002-0306.2008.07.062
基于敲击振动检测苹果内部缺陷的研究
苏子鹏
,
屠康
,
邹秀容
,
静玮
,
潘磊庆
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为了能快速检测并剔除有内部缺陷的苹果,利用敲击振动的方法研究了红富士和金冠苹果共振频率的变化规律,发现苹果的硬度系数和腐烂面积有很好的相关性,提出了一种无损检测苹果内部缺陷的方法。红富士和金冠苹果的硬度系数与腐烂面积的相关系数R2分别为0.998和0.878。以苹果的硬度系数为自变量,建立了Logistic回归方程,其中第5d红富士和金冠苹果的预测值与实际值一致对比例为76.0%和78.9%,OR(比数比)值分别为76.0和79.0,建立的方程基本能够检测出内部有缺陷的苹果。
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